對該係列PI薄膜進行X射線（XRD）測試表征，分析其聚集態結構的變化情況。
經過試驗，PI薄膜的（de）XRD曲線中（zhōng）相對強而尖銳的衍射峰集中出現在2θ為100° ~  300°，且（qiě）其強度及尖（jiān）銳程序隨著DAPBO單體含量的增加而逐漸增（zēng）強，  表明該類型的PI薄膜在一定程度上開始具（jù）有結（jié）晶性。其中，相對於PI-10-0而言，PI-8-2XRD曲線上的衍射峰強度較弱，而PI-4-6、PI-1-9、P[-0-10薄（báo）膜XRD曲線上的衍（yǎn）射峰強度依次增（zēng）強。這可能是（shì）由於PI-10-0中僅含有PDA和ODA兩（liǎng）種二胺單體，兩者與二酐（gān）單體s-BPDA進行無序反應（yīng），形成具有（yǒu）一定空間位阻效應的分子（zǐ）鏈堆積結構，而微量DAPBO單體的加（jiā）人，與s-BPDA形成了新的直線型結構（gòu）s-BPDA/DAPBO分子鏈，此時雖沒（méi）有形成長程有序結

構，卻打亂了原有重複單元中的有序（xù）結構，不利於結晶的形成，因此PI-8-2 XRD曲線上的衍（yǎn）射峰減弱。隨著DAPBO單體的不斷加入，形成越（yuè）來越多（duō）的直線型s-BPDA/DAPBO分子鏈，在高（gāo）溫（wēn）亞胺化的過程中形（xíng）成了很強的分子鏈間作用力和長程有序結構，分子鏈間的強相互作用作為物理交聯點，限製了鏈段的運動，使得分子鏈間堆砌密度（dù）增（zēng）大，宏觀表現為相對較高的結晶（jīng）度，因此對應的XRD曲線上衍射峰變得強而尖銳。